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芯片无损检测
发布时间:2017-09-13 15:17:37 | 浏览次数:


SNSPD的快速、低抖动等特性,在高端芯片无损检测中具有重要应用。借助SNSPD的高时间精度,可以检测芯片产生的微弱光子的时间特性,进而实现无损检测。早在2001年,美国研究人员就将SNSPD应用于芯片检测。尽管当时探测效率很低(仅0.002%),但依然比常规探测器件的检测速度提升了100倍 【Microelectronics Reliability 43: 1621 (2003)】。

 
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